ST2258C型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等

M-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 儀器成套組成：由M-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。 儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變

新款DMR-1C型方阻儀帶彈簧測(cè)試探頭, 接觸可靠, 工作穩(wěn)定, 是于測(cè)量塑料薄膜金屬鍍層方塊電阻的儀器. 根據(jù)方塊電阻可以計(jì)算出鍍層厚度, 因此是各鍍膜廠*的測(cè)試儀器. 使用時(shí)只要把探頭輕輕壓在被測(cè)鍍膜上面, 儀器即可顯示出方塊電阻值, 無需任何調(diào)節(jié)。 新款方阻用四線插座替代原有的香蕉插座,這樣線纜不易折斷,探頭的使用壽命相應(yīng)延長. 方塊電阻測(cè)試儀